مقدمه

 تحلیل و آنالیزپراش اشعه ایکس( (XRDدر هندسه انعکاسی با استفاده از انرزی های اشعه ایکس بین ۵-۱۷kev انجام می شود.اطلاعات حاصله از ساختار کریستالها و بلورها تنها از سطح و چند میکرومتر در زیر آنها به دست امده است.از آنجا که عمق نفوذ انرژی اشعه ایکس کم است پس پراش اشعه ایکس کم کاربرد است بنابراین قادر به کاوش و شناسایی سازهای داخلی ضخیمتر نیست.تابش سنکروترون،انرژی های اشعه ایکس از kev100به بالاتر تولید می کند که به ما اجازه مطالعه نمونه ها را تا چند میلی متر ضخامت می دهد.در مطالعه گزارش شده در اینجا نشان داده شده است که می توان با استفاده از انرژی بالاتر اشعه ایکس (۱۰۰-۳۲۰kev)انتقال ساختار ،ذوب وانجماد نمونه ها ی فلزی با ضخامت را در داخل قالب را می توان با استفاده از nonivasively فهمید.

 استفاده از XRDدر مطالعه انجماد فلزات و تغییرات فاز جدید نیست،با این حال در بسیاری از تحقیقات برای نمونه های بسیار نازک (در حد بیشتر از چند میلی متر از کوره هایی با میرایی کم اشعه ایکس و با پنجرههایی از جنس (برلیم،گرافیت یا پلی آمید)و با کاهش انرژی اشعه ایکس(kev50 و یا پایینتر)استفاده می شود.تحقیق و بررسی بر روی نمونه های پیشرفته نشان می دهد که XRD با انرژی بالاتر از kev150 نیازاست.سیستم فلاش XRDاین امکان را برای مطالعه تغییرات ساختاری در طول تغییرات پویا مانند رشد بلوری فراهم می کند.از جمله بتچولد و هکارانش،کوپینگ و همکارانش،بالاک و همکارانش ،ریمرز و همکارانش در مطالعات انجام داده برای توسعه انرژی بالایXRDبرای مطالعه تنش در بافتهای ضخیم (تا ۷/۱۲میلی متر)از نمونه فولاد هستند.برای جزئیات بیشتر در مورد عوامل میرایی و XRDبه پراش XRDمراجعه کنید.

….

جهت مشاهده کامل مطلب کلیک کنید