جستجو در تالارهای گفتگو

علامت اختصاری AFM از Atomic Force Microscopy یا Atomic Force Microscope گرفته شده و به معنی میکروسکوپی است که از نیروی یونی و رانش اتمها در جهت ساخت تصویر مجازی از سطح جسم بهره می جوید و اغلب "چشم نانوتکنولوژی" نامیده می شود. همچنین AFM را به SPM یا Scanning Probe Microscopy که یک تکنیک تصویر برداری میکروسکوپی با رزولوشن بالا است که می تواند از ابعاد کوچکی به اندازه شبکه اتمها تصویری بزرگ و قابل رویت بسازد ، ارجاء داده می شود. این تکنیک به محققین این امکان را می دهد تا بتوانند دستکاری هایی را در ابعاد اتمی و مولکولی بروی اشیاء داشته باشند. [TABLE=class: cms_table] [TR] [TD]AFM چگونه کار می کند؟ دستگاه از یک سوزن اتمی (منظور از اتمی یعنی نوک سوزن دارای فقط یک اتم یا چند اتم باشد) ، پایه ای که سوزن بروی آن نصب شود (Cantilever) ، یک دستگاه تاباننده اشعه لیزر و یک ردیاب نوری یا Photo detector که بازتاب لیزر را بعد از برخورد به پایه ردیابی و ثبت کند. طرز عمل: هنگامی که جسم مورد نظر بروی این دستگاه برای اسکن شدن نصب می شود و سوزن روی آن قرار می گیرد بر اثر حرکت جسم و نیروهای یونی دفع کننده که بین نوک سوزن و مسیر اسکن وجود دارد سوزن و پایه بالا و پائین می رود. این در حالی است که مسیر لیزر بازتاب شده بروی دتکتور بر حسب بر آمدگی ها و فرو رفتگی های روی جسم با بالا و پائین رفتن پایه تغیر کرده و تصویر توپوگرافی از سطح جسم در مونیتور نقش می بندد. دقت این تصویر برداری ، دقتی در حد اتم است.[/TD] [TD][/TD] [/TR] [/TABLE] STM =Scanning Tunneling Microscopy را جد AFM می دانند که در سال 1981 توسط G.Binnig و H.Rohrer اختراع شد. این دو دانشمند در سال 1986 جایزه نوبل فیزیک را برای این اختراشان (AFM) با هم قسمت کردند. اشکالی که در STM وجود داشت این بود که این میکروسکوپ نمی توانست از سطوح چند تکه تصویربرداری کند. AFM دارای وسعت عمل در تصویر برداری از سطوح یکپارچه و همچنین چند تکه است. امروزه استفاده های زیادی از AFM در ابعاد مولکولی و اتمی در رشته های علوم نانو و نانوتکنولوژی می شود. این موضوع به ما کمک می کند که واکنشها را در سیستمهای مختلف بررسی دقیقتر کرده و باعث اکتشافات جدید در زمینه های نانوتکنولوژی ، بیوتکنولوژی ، علوم زیستی ، علوم مواد ، بیوفیزیک و علوم پلیمر گردد. [Hidden Content]